裁判字號：最高行政法院98年判字第1409號判決
裁判日期：民國98年11月19日
裁判案由：發明專利舉發
最高行政法院判決
98年度判字第1409號上訴人致茂電子股份有限公司（即原審原告達司克科技股
份有限公司之承當訴訟當事人）代表人甲○○訴訟代理人 張慧明 律師被上訴人經濟部智慧財產局代表人乙○○
參加人丙○○上列當事人間發明專利舉發事件，上訴人對於中華民國96年9月13日臺北高等行政法院95年度訴字第3668號判決，提起上訴，本院判決如下：
主文上訴駁回。
上訴審訴訟費用由上訴人負擔。
理由
一、上訴人之前手達司克科技股份有限公司（下稱達司克公司）前於民國91年5月16日以「應用於高頻IC測試之IC測試處理機」（下稱系爭案）向被上訴人申請發明專利，經其編為第00000000號審查，於92年11月21日准予專利，並於公告期滿後，發給發明第190377號專利證書。其申請專利範圍為：「
1.一種應用於高頻IC測試之IC測試處理機，其主要包括：一機台：該機台提供一中央控制單元以控制協調機台其他機構之動作、受測IC之供料機構、受測IC/完測IC之送料機構、對應測試埠口數目設置之待測IC/完測IC緩衝承座及至少一IC測試吸嘴及測試埠口以銜接測試平台、完測IC測試級別分選承置盤；一測試平台：該測試平台係設置於前述機台之測試埠口內之組裝架上，包含一電源供應器、一測試公板與基本開機啟動環境（即主機板），其測試公板為該受測IC製造商之合作廠之支援產品，並在該接合位置焊設一IC測試插合座，以插入受測IC；電源供應器及基本開機啟動環境為提供該測試公板（插入受測IC後）可維持系統正常運作之元件，該基本開機啟動環境內含一輸出/輸入系統，可由機台之中央控制單元外接排線至輸出/輸入系統，以由中央控制單元適時發出控制訊號給測試平台及由測試平台讀取測試結果之訊號到中央控制單元者。2.如申請專利範圍第1項所述之應用於高頻IC測試之IC測試處理機，其中該測試平台不含電源供應器而可由機台提供者。」嗣參加人於93年6月14日以其有違核准時專利法第20條之1之規定，不符發明專利要件，對之提起舉發。案經被上訴人審查，於95年4月25日以（95）智專三（二）04074字第09520307900號專利舉發審定書為舉發成立，應撤銷專利權之處分。上訴人不服，提起訴願，經遭駁回，遂提起行政訴訟。
二、上訴人之前手達司克公司起訴主張：系爭案係完全利用同一個受測IC/完測IC之送料機構13來負責待測IC和完測IC的運送，與引證案相較兩者的構成及技術手段明顯不同。又從引證案第4、5圖可知並非吸附的方式，而是使用彈簧夾取待測的IC片，從引證案圖6難以看出其結構，引證案的待測區從圖式無法看出其結構一節引證案的出料機34僅以圖3中的一方塊形狀表示，並以簡單的文字描述「出料機（圖3的34），配合（或利用）該移動具或習用機械手臂，將該完成測試的積體電路移到該測試實體板25之外」，顯見引證案所揭露之技術內容，實難謂已達到足以令發明所屬技術領域中具有通常知識者所能充分瞭解之程度。另依據引證案專利說明書第10頁及圖2之一實施例中有關安裝器22的說明，難令人瞭解究竟是由安裝器22還是壓接機構23將該待測積體電路插接到該測試實體板25上指定區引證案係由兩個不同的機構「安裝器22」及「出料機34」來負責待測試和完成測試之積體電路的運送，其中「安裝器22」係用以運送待測試的積體電路，而另一「出料機34」則用以將測試完成的積體電路移到該測試實體板之外；系爭案係完全利用同一個「受測IC/完測IC之送料機構13」來負責待測IC和完測IC的運送，與引證案相較兩者的構成及技術手段明顯不同。系爭案之中央控制單元未見於引證案，被上訴人仍以系爭案說明書中有關先前技術之說明推導出：「系爭案之中央控制單元11以控制協調機台其他機構之動作，為習知技術」之結論，再輾轉引用「引證案已揭示藉由機器自動化來取代習用的人工作業，而自動化作業自然需要中央控制單元，故系爭案之中央控制單元11能由熟習該項技術者直接推導而得」，顯然是將兩個非屬同一引證資料之內容合併使用，並據以認定系爭案不具新穎性，明顯違反專利審查基準中有關新穎性審查之單獨比對原則，被上訴人認系爭案之中央控制單元11能由熟習該項技術者直接推導而得，實有錯將進步」之判斷結果，認定系爭案不具新穎性之不當判斷等語，求為判決撤銷訴願決定及原處分。
三、被上訴人則以：系爭案請求項1之「機台1」所述皆為習知之構件。系爭案與引證案同為IC測試裝置之技術領域，系爭案請求項1揭示有一機台1，該機台提供一中央控制單元11、受測IC之供料機構12、受測IC/完測IC之送料機構13、待測IC/完測IC緩衝承座14、IC測試吸嘴15、測試埠口16、完測IC測試級別分選承置盤17；一測試平台2，該測試平台係設置有組裝架161、電源供應器21、測試公板22、基本開機啟動環境（即主機板）23、IC測試插合座221、輸出/輸入系統231。按判斷發明有無新穎性時，應以發明之技術內容比對是否相同為準，相同即不具新穎性。查系爭案所揭「中央控制單元11以控制協調機台其他機構之動作」，為習知技術，引證案已揭示藉由機器自動化來取代習用的人工作業，而自動化作業自然需要中央控制單元，故系爭案之中央控制單元11能由熟習該項技術者直接推導而得；受測IC之供料機構12相同於引證案之進料機21，其容納待測積體電路；受測IC/完測IC之送料機構13相同於引證案之安裝器22，用以將該待測積體電路移出該進料機而插接於該測試實體板上指定區。系爭案之發明重點在於「測試平台，利用一電源供應器、測試公板與基本開機啟動環境（即主機板Mainboard）組成一測試平台來替代習用的測試頭部份」，而系爭案其「工作型態屬於現實環境測試，能對該IC作最詳細的測試作業，可提高IC測試的正確性」之目的與引證案「可以模擬終端使用者的狀態以進行測試，確保積體電路的使用品質」目的相同。故引證案足以證明系爭案請求項1不具新穎性。系爭案的申請專利範圍有2項，第1項當中的構件有些雖然在舉發引證案當中沒有明示出來，但屬於習知技術，有擬制喪失新穎性。壓接機構系爭案是用吸嘴吸起來再壓下去，習知技術亦同，系爭案主要改良重點是測試公板，就好像在實體環境一樣在測試，不用單獨模擬，兩個技術內容針對兩個發明的目的都是一樣的等語，資為抗辯，求為判決駁回上訴人之訴。
四、原審斟酌全辯論意旨及調查證據之結果，以：系爭案於其專利說明書第5頁已載明習知IC測試處理器主要係利用一機台與測試頭測試儀器所組成，該機台至少應具備有得將待測試IC預排入的供料機構，及可運送該IC到各站之送測IC/完測IC輸送機構，利用送測IC/完測IC輸送機構將IC送到待測IC/完測IC緩衝區上，並將IC移入測試區後，由測試IC輸送臂上之測試夾頭吸取IC並壓入測試頭進行測試，測試頭並產生測試數據給機台，之後再同樣以測試IC輸送臂將IC搬至待測IC/完測IC緩衝區，再由送測IC/完測IC輸送機構將IC依測試數據配送到所屬的完測IC放置盤的等級內者。…。習用IC測試處理器所用之測試頭儀器屬於模擬環境，而非現實環境測試，因此若干無法模擬的功能就無法測試得到…。系爭案利用一電源供應器、測試公板與基本開機啟動環境組成一測試平台來替代習用的測試頭部分等語。其說明書第1圖習知技術亦揭明「待測IC預排入的供料機構11'」、「可運送該IC到各站之送測IC/完測IC輸送機構12'」、「待測IC/完測IC緩衝區121'」、「測試IC輸送臂13'上之測試夾頭131'吸取IC」、「測試區2'」、「完測IC放置盤14'」等構件。分別相當於系爭案請求項1中所揭機台中之「受測IC之供料機構12」、「受測IC/完測IC之送料機構13」、「待測IC/完測IC緩衝承座14」、「IC測試吸嘴15」、「測試埠口16」、「完測IC測試級別分選承置盤17」等。系爭案請求項第1項中所揭機台中之「中央控制單元以控制協調機台其他機構之動作」，雖於前揭圖示並未載明，但由系爭案專利說明書所記載習知技術之機台供料機構、輸送機構、測試區以及由測試IC輸送臂上之測試夾頭吸取IC並壓入測試頭進行測試，測試頭並產生測試數據給機台，之後再同樣以測試IC輸送臂將IC搬至待測IC/完測IC緩衝區，再由送測IC/完測IC輸送機構將IC依測試數據配送到所屬的完測IC放置盤的等級內之IC測試作動過程，熟習該項技術者可直接推導「中央控制單元」為必要之構件。因此，中央控制單元，亦非系爭案改良之處。從而，系爭案申請專利範圍第1項關於一機台：該機台提供一中央控制單元以控制協調機台其他機構之動作、受測IC之供料機構、受測IC/完測IC之送料機構、對應測試埠口數目設置之待測IC/完測IC緩衝承座及至少一IC測試吸嘴及測試埠口以銜接測試平台、完測IC測試級別分選承置盤等均屬習知構件，其改良部分仍在其測試平台。引證案係一種對積體電路作系統層級測試的裝置，依其申請專利範圍之界定，已揭示有容器、進料機、安裝器、測試實體板、壓接機構、測試器及轉向器等。其中系爭案「受測IC之供料機構12」相同於引證案「進料機21」，以容納待測積體電路；「受測IC/完測IC之送料機構13」相同於引證案之「安裝器22」，用以將該待測積體電路移出該進料機而插接於該測試實體板上指定區；系爭案待測IC/完測IC緩衝承座14，依前所述，已屬習知技術；另依引證案所揭露具有中繼轉運功能之「轉向器」亦可直接推導而得系爭案待測IC/完測IC緩衝承座14之技術內容。系爭案「IC測試吸嘴15」由系爭案專利說明書可證「IC測試吸嘴15」已屬習知技術。另由引證案所揭示之「壓接機構23，用以將該待測積體電路插接到該測試實體板之指定區」之記載，以及申請專利範圍第7項關於壓接機構係藉由…機械驅動…者揭示，參照前揭習知技術，熟習該項技術者亦能由引證案直接推導「IC測試吸嘴15」之技術內容。系爭案「測試埠口16」相同於引證案之容器24以供容納實體板。而系爭案「完測IC測試級別分選承置盤17」相同於引證案之第二種容料器35、第三種容料器36，係供容納實體板。因此，系爭案申請專利範圍第1項所界定之機台技術內容相同於引證案。再查，關於系爭案技術改良之測試平台部分，系爭案之「測試公板22」相同於引證案之實體板25；「基本開機啟動環境23」相同於引證案之測試器27；引證案為自動化系統，而電源供應器為驅動元件之基本必要條件，故系爭案之「電源供應器21」為熟習該項技術者得由引證案直接推導而得者；系爭案IC插合座221相同於引證案之指定區26；系爭案「輸出/輸入系統231」功能相同於引證案之測試器27與測試實體板25間測試信號關係；「組裝架161」得由引證案專利說明書第11頁第4行所載技術直接推導而得。因此，系爭案申請專利範圍第1項所揭之「測試平台」亦相同於引證案。而系爭案申請專利範圍第2項所述「該測試平台不含電源供應器而可由機台提供者」，其僅為界定電源供應器之來源，可由熟習該項技術者由引證案直接推導而得。系爭案之技術內容已可見於申請在先而在其後始公告之引證案，或可由引證案之技術內容直接且無歧異得知，已如前述。至於引證案的出料機34是否已達到足以令發明所屬技術領域中具有通常知識者所能充分瞭解之程度，未在前述比對範圍，與判斷結果無關。而引證案安裝器22用以將該待測積體電路移出該進料機而插接於該測試實體板上指定區，該安裝器包含一壓接機構，用以將該待測積體電路插接到該測試實體板上指定區，已說明係由安裝器包含一壓接機構，用以將該待測積體電路插接到該測試實體板上指定區。引證案安裝器包含移動具可將待測積體電路從進料機移向該測試實體板25，測試完成後再將完測IC移出該測試實體板25，其與系爭案「受測IC/完測IC之送料機構13」技術手段並無不同。引證案既已揭露從已經插接有該待測積體電路的該測試實體板25接收一測試輸出信號，並且根據該測試輸出信號發出一指示信號，以顯示該待測積體電路是否適用於該測試實體板，參照前述系爭案中央控制單元，並非系爭案改良之處，已屬習知之必要構件，則熟習該項技術領域之人亦可由引證案上述技術之說明直接推導而得系爭案可從測試器27讀取測試結果之中央控制單元。關於系爭案所載之習知技術內自非不得作為引證案是否可直接且無歧異得知其實質上單獨或整體隱含申請專利發明中相對應之技術內容判斷上之參酌依據。從而被上訴人以系爭案有違核准審定時專利法第20條之1規定，而為舉發成立，應撤銷專利權之處分，於法核無違誤。訴願決定予以維持，亦屬妥適，因將原決定及原處分均予維持，駁回上訴人之訴。
五、本院按：㈠現行專利法第136條第1項僅對異議案件規定：「本法中華民
國92年1月3日（該日期係立法院三讀通過日期並非施行日期，因現行專利法第138條規定：本法除第11條自公布日施行外，其餘條文之施行日期，由行政院定之。玆行政院以93年6月8日院臺經字第0930026128號令核定自93年7月1日施行）修正施行前，已提出之異議案，適用修正施行前之規定。」對於舉發案件，並未規定其適用法規基準時，本件舉發審定是否有違法事由，依實體從舊、程序從新原則，程序事項應適用舉發審定時即現行專利法舉發程序之規定，實體事項從專利核准審定時專利法規定。經查，系爭案申請日為91年5月16日，並由被上訴人於92年11月21日審定准予專利，參加人並於修正施行前93年6月14日提出舉發，被上訴人於修正施行後之95年4月25日為舉發審定，是系爭專利有無撤銷之原因，應以核准審定時有效之90年10月24日修正公布之專利法為斷。
㈡次按凡利用自然法則之技術思想之高度創作，而可供產業上
利用者，固得依系爭案核准時專利法第19條暨第20條第1項之規定申請取得發明專利。惟若「申請專利之發明，與申請在先而在其申請後始公開或公告之發明或新型專利申請案所附說明書或圖式載明之內容相同者，不得取得發明專利」復為同法第20條之1所明定。而判斷申請專利之發明，是否為申請在先而在其申請後始公開或公告之發明或新型專利申請案所附說明書或圖式所載之內容揭露，應以發明之技術內容比對是否相同，如兩者在形式或實質上均無差異，固屬相同；若其差異僅在於文字記載或描述，而其實質之技術內容並無差異，或其差異之技術內容，依該發明所屬技術領域中具有通常知識者基於先前技術形式上明確記載之技術內容，即能直接且無歧異得知其實質上單獨或整體隱含申請專利發明中相對應之技術內容者，仍不能謂二者之技術內容為不相同。本件參加人係主張系爭案之技術內容已可見於申請在先而在其後始公告之引證案，或可由引證案直接推導，系爭案有違核准審定時(即90年10月24日修正公布)專利法第20條之1規定而提起本件舉發。以上業經原判決闡釋甚詳，核無不合。
㈢原判決關於系爭案申請專利範圍第1項關於一機台：該機台
提供一中央控制單元以控制協調機台其他機構之動作、受測IC之供料機構、受測IC/完測IC之送料機構、對應測試埠口數目設置之待測IC/完測IC緩衝承座及至少一IC測試吸嘴及測試埠口以銜接測試平台、完測IC測試級別分選承置盤等均屬習知構件，其改良部分仍在其測試平台；第1項所界定之機台技術內容相同於引證案。系爭案申請專利範圍第1項所揭之「測試平台」亦相同於引證案。而系爭案申請專利範圍第2項所述「該測試平台不含電源供應器而可由機台提供者」，其僅為界定電源供應器之來源，可由熟習該項技術者由引證案直接推導而得之事實，以及上訴人所主張：被上訴人違反專利審查基準中有關新穎性審查之單獨比對原則，認系爭案之中央控制單元11能由熟習該項技術者直接推導而得，錯將「進步性」之判斷結果，認定系爭案不具「新穎性」云云，如何不足採等事項均詳予以論述，是原判決所適用之法規與該案應適用之現行法規並無違背，與解釋判例，亦無牴觸，並無所謂原判決有違背法令之情形；上訴意旨以：本案縱使系爭專利說明書所載習知技術以揭露系爭專利中央控制單元之構件，惟引證案以外之資料尚難與引證案組合，原判決涉及新穎性之判斷顯有適用法規不當之違背法令云云，無非就原審取捨證據、認定事實之職權行使，任意指摘原判決有違背法令情事，並非可採。
㈣再者，專利之擬制喪失新穎性及新穎性之審查固應採單獨比
對原則，兩發明是否相同，雖應就申請專利之系爭發明，與先前技術（在擬制喪失新穎性為申請在先而在其申請後始公開或公告之發明或新型專利申請案）所附說明書或圖式載明之內容加以比對，如有差異之技術內容，依該發明所屬技術領域中具有通常知識者基於先前技術形式上明確記載之技術內容，即能直接且無歧異得知其實質上單獨或整體隱含申請專利發明中相對應之技術內容者，二者之技術內容可認為相同。但關於系爭案所載之習知技術內容自非不得作為引證案是否可直接且無歧異得知其實質上單獨或整體隱含申請專利發明中相對應之技術內容判斷上之參酌依據。此業經原判決闡釋在案，核與專利之擬制喪失新穎性及新穎性之審查相符，自堪援用。上訴意旨以：可否直接無歧異之推導，必須引證案有提及且不夠清楚的情況，若引證案完全未提及該特定構件，即無推導餘地。專利之新穎性審查應採單獨比對原則，所謂獨立引證資料，應以引證文件中有明確記載之內容或實質上隱含之內容由該發明所屬技術領域具有通常知識者參酌通常知識能直接無歧異得知為限。若某一引證文件未能明確記載或實質隱含內容，縱為習知技術亦不能由熟知此技藝之人參酌引證文件能直接無歧異推導得知云云，係以其對法律上見解之歧異，主張原判決違背法令，自非足取。
㈤本件原判決已斟酌全辯論意旨及調查證據之結果，適用前揭
審查原則，就系爭案「由中央控制單元11適時發出控制訊號給測試平台2及由測試平台2讀取測試結果之訊號到中央控制單元11者」之技術內容部分，依系爭案專利說明書所記載習知技術之機台構件作動過程，熟習該項技術者可直接推導「中央控制單元」為必要之構件，系爭案中央控制單元，並非系爭案改良之處，引證案既已揭露從已經插接有該待測積體電路的該測試實體板25接收一測試輸出信號，並且根據該測試輸出信號發出一指示信號，以顯示該待測積體電路是否適用於該測試實體板，參照前述系爭案中央控制單元，並非系爭案改良之處，已屬習知之必要構件，則熟習該項技術領域之人亦可由引證案上述技術之說明直接推導而得系爭案可從測試器27讀取測試結果之中央控制單元等情詳予論斷，將判斷而得心證之理由記明於判決，並敘明上訴人主張引證案未揭露此部分技術，系爭案與引證案兩者之構成及運作方式顯然不同一節，為不可採，業如上述，經核並無違背論理法則或經驗法則，亦無判決不適用法規或適用不當、不備理由等違背法令情事。上訴人上訴意旨略謂：被上訴人以系爭案說明書中有關先前技術之說明推導出系爭案之中央控制單元為習知技術，再輾轉引用引證案揭示藉由機器自動化取代習用之人工作業，而自動化作業自然需要中央控制單元，顯將兩個非屬同一引證資料之內容合併使用，有違審查基準中關於新穎性審查之單獨比對原則云云，亦非可採。
㈥從而，上訴論旨，仍執前詞，指摘原判決違背法令，求予廢
棄，為無理由，應予駁回。（至於本院98年度判字第1274號判決其參加人即舉發人以及舉發引證案，均與本案有別，附此敘明）
六、據上論結，本件上訴為無理由。依行政訴訟法第255條第1項、第98條第1項前段，判決如主文。
中華民國98年11月19日
最高行政法院第四庭
審判長法官劉鑫楨
法官楊惠欽法官劉介中法官曹瑞卿法官陳鴻斌以上正本證明與原本無異中華民國98年11月20日
書記官張雅琴