裁判字號：臺北高等行政法院95年訴字第4354號判決
裁判日期：民國96年09月27日
裁判案由：發明專利舉發
臺北高等行政法院判決
95年度訴字第04354號原告達司克科技股份有限公司代表人甲○○訴訟代理人 張慧明 律師被告經濟部智慧財產局代表人 蔡練生 （局長）住同上訴訟代理人丙○○
參加人乙○○上列當事人間因發明專利舉發事件，原告不服經濟部中華民國95年10月12日經訴字第09506180200號訴願決定，提起行政訴訟。
本院判決如下：
主文訴願決定及原處分均撤銷。
訴訟費用由被告負擔。
事實
一、事實概要：緣原告前於民國（下同）91年5月16日以「應用於高頻ＩＣ測試之ＩＣ測試處理機」向被告經濟部智慧財產局申請發明專利，經被告編為第00000000號審查，准予專利，並於公告期滿後，發給發明第190377號專利證書。嗣參加人乙○○以其有違核准時專利法第20條之1之規定，不符發明專利要件，對之提起舉發。案經被告審查，以95年4月25日（95）智專三（二）04074字第9520311080號專利舉發審定書為「舉發成立，應撤銷專利權」之處分。原告不服，提起訴願，遭決定駁回，遂提起行政訴訟。本院因認本件撤銷訴訟之結果，參加人之權利或法律上利益將受損害，爰依職權裁定命獨立參加被告之訴訟。
二、兩造聲明：㈠原告聲明求為判決：
⒈原處分及訴願決定均撤銷。
⒉訴訟費用由被告負擔。
㈡被告聲明求為判決：
⒈原告之訴駁回。
⒉訴訟費用由原告負擔。
三、兩造之爭點：系爭專利是否有核准審定時專利法第20條之1規定不得取得發明專利之情形（即擬制喪失新穎性）？㈠原告主張：
⒈系爭專利請求項及引證專利案之技術內容概要：
⑴依系爭專利申請專利範圍第1項所載，係包括：
①一機台1：該機台提供一中央控制單元11以控制協
調機台1其他機構之動作、受測IC之供料機構12、受測IC/完測IC之送料機構13、對應測試埠口16數目設置之待測IC/完測IC緩衝承座14及至少一IC測試吸嘴15及測試埠口16以銜接測試平台2、完測IC測試級別分選承置盤17；②一測試平台2：該測試平台2係設置於前述機台1
之測試埠口16內之組裝架161上，包含一電源供應器21、一測試公板22與基本開機啟動環境23（即主機板），其測試公板23為該受測IC製造商之合作廠之支援產品,並在該接合位置焊設一IC測試插合座
221，以插入受測IC；電源供應器21及基本開機啟動環境23為提供該測試公板22（插入受測IC後）可維持系統正常運作之元件，該基本開機啟動環境23內含一輸出/輸入系統231，可由機台1之中央控制單元11外接排線至輸出/輸入系統231，以由中央控制單元11適時發出控制訊號給測試平台2及由測試平台2讀取測試結果之訊號到中央控制單元11者。
⑵有關系爭專利中各機構的運作流程，依其說明書內容所描述，原告摘要如后：
「參照第4圖所示，其運作流程為先將待測試IC放入機台１上的受測IC之供料機構12，並利用受測IC/完測IC之送料機構13將待測試IC送到待測IC/完測IC緩衝承座14內，續由IC測試吸嘴15由待測IC/完測IC緩衝承座14內將待測IC置入測試公板22上之IC測試插合座221內進行真實環境測試，測完後覆置入待測IC/完測IC緩衝承座14內，並由受測IC/完測IC之送料機構13送出，並依中央控制單元11讀取自輸入/輸出系統231的測試數據判斷等級，並置入適當的完測IC測試級別分選承置盤17內者。」⑶由以上說明可知，系爭專利主要係由兩個機構進行IC
的輸送，其中一者為「受測IC/完測IC之送料機構13」係介於「受測IC之供料機構12」、「待測IC/完測IC緩衝承座14」、以及「完測IC測試級別分選承置盤17」此三者之間，負責待測IC/完測IC的運送。另一者為「IC測試吸嘴15」係介於「待測IC/完測IC緩衝承座14」和「測試公板22上之IC測試插合座221」二者之間，負責待測IC/完測IC的運送，而上述各機構的動作則是由「中央控制單元11」協調控制。
⑷依據引證案之申請專利說明書及圖式內容可知，其中所揭露的積體電路測試裝置包含：
①一機架650；②至少一測試用電腦600，設置於該機架650上，適
於承載及測試一被測積體電路；③至少一自動插拔機構612，設置於該機架650上，
適於將該被測積體電路置入該測試用電腦600及自該測試用電腦600中移除；④至少一控制裝置640，電性連接該測試用電腦600
及該自動插拔機構612，用以控制該自動插拔機構
612之動作及該測試用電腦600之測試，其中，該測試用電腦600於承載該被測積體電路後係構成一整機電腦，以進行整機測試。
⒉未依專利審查基準審查之違法：
⑴按系爭專利審定時專利法第20條之1：「申請專利之
發明，與申請在先而在其申請後始公開或公告之發明或新型專利申請案所附說明書或圖示載明之內容相同者，不得取得發明專利」，係有關「擬制新穎性之規定」；而此等先申請案所記載之發明以法律擬制（legalfiction）為既有技術，而使後申請案之發明不具新穎性，故此項規定，僅能適用於考量新穎性之用，不得作為考量進步性之用。」【83年11月25日公告之專利審查基準（下稱舊專利審查基準）】。
⑵故依前揭專利法第20條之1主張已核准之發明專利擬
制喪失新穎性時，應以「申請在先、公開在後」之單一前案作為引證資料；而判斷系爭專利是否因為單一前案而擬制喪失新穎性，應以兩者是否「構成相同之發明」為判斷標準，若相同則令後申請案不具新穎性，反之則後申請案應具新穎性。
⑶被告認為系爭專利申請專利範圍第1項不具新穎性之理由，茲整理如下：
①中央控制單元11：並未揭露於系爭專利說明書所揭
示第１圖之習知技術中；亦相同於引證案之控制裝置640。
②受測IC之供料機構12：相同於引證案之積體電路供應裝置622。
③受測IC/完測IC之送料機構13：相同於引證案之自動傳送裝置620。
④待測IC/完測IC緩衝承座14：已載明於系爭專利說
明書第5頁第9行先前技術；已揭示於引證案之請求項10。
⑤IC測試吸嘴15：為習知技術（見系爭專利說明書第
5頁第12行先前技術已載明「測試夾頭131'吸取IC」；亦相同於引證案之自動插拔機構612。
⑥測試埠口16：相同於引證案之測試用電腦600。
⑦完測IC測試級別分選承置盤17：相同於引證案之積體電路分類裝置624。
⑧測試公板22：相同於引證案之模組電路板402。
⑨基本開機啟動環境（即主機板）23：相同於引證案之主機部份602的主機板。
⑩電源供應器21：引證案為自動化系統，電源供應器
自為驅動元件之基本必要之構件，系爭專利之電源供應器21為能由熟習該項技術者直接推導而得。
⑪IC測試插合座221：相同於引證案之連接器608。
⑫輸出/輸入系統231：相同於引證案之輸入/輸出裝置604。
⑬組裝架161：相同於引證案之機架650。⑷依前揭專利審查基準所揭示：「判斷發明有無新穎性
時，應以發明之技術內容比對是否相同（含能由熟習該項技術者直接推導）為準。不相同即具有新穎性；相同即不具新穎性。」『比對方式，應採單獨比對方式，以個別獨立的引證資料與「請求項所載發明」進行比對，不得將二個以上獨立的引證資料予以組合，以與「請求項所載發明」比對。』至於何謂獨立的引證資料，在舊專利審查基準中雖未明確說明，惟依被告於93年6月28日修正發布，並於93年7月1日施行之現行專利審查基準第二篇第三章：「2.3.2單獨比對」：「引證文件中明確敘及另一參考文件時，若該參考文件在引證文件公開日之前已能為公眾得知，則該參考文件應被視為引證文件的一部分，亦即引證文件與參考文件共同揭露之先前技術仍屬單一文件中所揭露之先前技術。」⑸另於現行專利審查基準第二篇第三章：「2.2.2引證
文件」：「審查新穎性時，應以引證文件中所公開之內容為準，包含形式上明確記載的內容及形式上雖然未記載但實質上隱含的內容，而引證文件揭露之程度必須足使該發明所屬技術領域中具有通常知識者能製造或使用申請專利之發明。實質上隱含的內容，指該發明所屬技術領域中具有通常知識者參酌引證文件公開時的通常知識，能直接且無歧異得知的內容。」「引證文件中明確敘及之先前技術文件，應屬於引證文件的一部分。引證文件中包括圖式者，若無文字說明，僅圖式明確揭露之技術特徵始屬於引證文件的一部分，而由圖式推測的內容，例如從圖式直接量測之尺寸，則不屬於引證文件的一部分。」⑹由以上之相關審查基準內容可知，專利之新穎性審查
應採單獨比對原則，而所謂獨立的引證資料，應以引證文件中有明確記載之內容，或是該引證文件中所敘及之另一參考文件內容為限，且該參考文件在引證文件公開日之前已能為公眾得知。反之，若某一引證文件之中並未記載另一參考文件之內容，則該引證文件與另一參考文件自不得視為獨立的引證資料，在對發明專利作新穎性判斷時自不得同時引用該引證文件與另一參考文件所載之內容作為判斷之依據。
⑺經查，被告在對系爭專利申請專利範圍第1項進行審
查時，除了引用該引證前案之技術內容，還一併引用系爭專利專利說明書中有關習知技術之內容，作為其審定理由之引用證據；惟查，系爭專利之申請專利說明書及該引證前案彼此並未互相揭示或引用，自屬各自獨立之引證資料，被告卻同時引用系爭專利之申請專利說明書及該引證前案所載之內容作出系爭專利不具新穎性之處分，顯有違反前揭專利審查基準審查之違法情事。
⑻又前後案是否「構成相同之發明」，須對前後案之技
術特徵作比較，必也前案之技術特徵已明確揭示，否則根本無從為比對：
①今查引證案之申請專利說明書及其圖式內容所揭露
者，只是針對積體電路的測試作業提出了一種「自動化的技術概念」，對於其中的具體實施手段及相關細節則未見任何進一步的揭露，例如：引證案的第6圖及第7圖，係以方塊圖表示各功能部件的功能及其運作的流程關係，對於所稱的「自動插拔機構」與「自動傳送裝置」等技術要件，僅以一些功能性的用語加以描述或定義，其彼此之間如何合作傳遞被測試積體電路的技術內容更未充份揭露。另引證案之申請專利範圍之請求項高達50項，然其圖示僅有7個（其中3個尚且為習知技術圖示），且均為平面示意圖，沒有任何一張結構立體圖，實難以想像第三人如何據以實施該專利。在引證案所揭露內容嚴重不完整情形下，被告竟仍認為發明所屬技術領域中具有通常知識者，能依引證案直接且無歧異推得系爭專利之內容，誠屬過度推導。
②再者，引證案之所以無法揭示完全，有其背景原因
。原告係一機械製造公司，開發設計系爭專利之IC（即晶片）測試處理機，係受威盛電子股份有限公司（下稱威盛公司）與矽品精密工業股份有限公司（下稱矽品公司）委託。三方經常開會討論，其間矽品公司及威盛公司就將相關概念申請專利，矽品公司於91年1月22日申請，獲准第560615公告號「系統層級測試裝置」新型專利。威盛公司於91年1月29日申請，獲准第548414公告號「自動化積體電路整機測試系統、裝置及其方法」發明專利（即本案之引證案）。然而由於威盛公司主要係從事晶片的設計，矽品公司則是從事晶片的封裝測試，對於機械的製造根本亳無概念，所以在申請專利的內容都無法揭示完整明確之架構。而原告則分別於91年
3月22日申請，獲准公告第562943號「IC測試處理機」發明專利，以及於91年5月16日申請，獲准公告第562938號「應用於高頻IC測試之IC測試處理機」發明專利（即系爭專利）。之後，在機械製造完成，進行交機、驗收及訓練時，矽品公司竟勾結另一機械製造商「鴻勁科技股份有限公司」（下稱鴻勁公司），讓鴻勁公司之人員冒充矽品公司人員，參與驗收訓練，趁機剽竊並仿製原告之機械，而後以低價提供給矽品及日月光集團之福雷公司。甚而鴻勁公司也於91年7月12日申請專利，獲准第551550公告號「IC檢測機之運送裝置」新型專利，並利用本件參加人名義，以矽品公司之專利為引證案，對原告之專利提出本案之舉發。本案背景所呈現商場的不公不義，被告卻未能明察實情，顯已損害原告合法權益。
③又如前所述，威盛公司由於並非機械製造廠商，而
且是在倉促間將原告的設計搶先申請專利，所以引證案僅有7個粗略的的平面圖示，其中第1至3圖尚為習知技術，所以真正為發明的圖示，僅有4個簡圖，根本無從讓人可以清楚瞭解該機械的架構究竟是什麼。而鴻勁公司因為也是機械廠商，至少其第551550號新型專利說明書除了第1圖外，尚有從第2-1圖到5-4圖等12個機械構造之立體圖示。
④另本案之引證案由於揭示不全且圖示尤其不清楚，
因此只能參酌實質上隱含之內容為判斷，視所屬技術領域中具有通常知識者能否依引證案內容直接且無歧異的推知系爭專利知的內容。原告之前以系爭專利及第562943號「IC測試處理機」發明專利為引證案，對於鴻勁公司第551550號「IC檢測機之運送裝置」新型專利提出舉發，主張其不具擬制新穎性。被告則以（95）智專三（二）04099字第09520277160號審定書為舉發不成立之處分，主要理由在於整體裝置與構造之技術特徵不同。若是如此，則被告之判斷顯然前後矛盾。原告與鴻勁公司第551550號專利都是在引證案之後，又判斷新穎性必須全部要件全部相同，如果從引證案可以直接且無歧異的推知特定的整體裝置與構造之技術特徵，那原告系爭專利與鴻勁公司第551550號專利應該要有相同的整體裝置與構造之技術特徵。然而，被告既認為原告系爭專利與鴻勁公司第551550號專利整體裝置與構造之技術特徵不同，那麼從較為抽象的引證案可以推知的具體特定的整體裝置與構造，顯然就不是那麼直接且無歧異。換言之，既然從抽象的引證案也可能可以推得鴻勁公司第551550號專利技術特徵，而被告又認為系爭專利與鴻勁公司第551550號專利技術特徵不相同，那本案被告認為從引證案可以直接且無歧異的推得系爭專利的技術特徵，顯然前後處分矛盾，於法不合。
⑼茲舉一例說明被告之推導顯有疑議：
①在原處分書第5頁第17行後段謂：「（系爭案）受
測IC/完測IC之送料機構13相同於引證案之自動傳送裝置620，自該積體電路供應裝置抓取該些被測積體電路，分送至該些測試用電腦」亦即被告認為從引證案之「自動傳送裝置620」，可以直接且無歧異的推得系爭專利的「受測IC/完測IC之送料機構13」。
②然而，原告以系爭專利為引證案，對於鴻勁公司第
551550號「IC檢測機之運送裝置」新型專利提出舉發，被告於（95）智專三（二）04099字第09520277160號審定書第3頁第21行到第26行謂：
「其中證據1、2（即本件系爭案）實質上並不具有系爭專利前述由『左懸臂取放機構40』及『右懸臂取放機構50』以及其間具有兩載台而同時可交互替接運送待測IC及已測IC之轉運機構組成之整體裝置與構造之技術特徵，證據1、2均不足以證明系爭專利第1項不具新穎性」。
③因此，雖然功能都是在接運送待測IC及已測IC，引
證案之「自動傳送裝置620」，由於沒有清楚的結構圖，只能勉強算是上位概念之構件。而具有清楚結構圖示的系爭案「受測IC/完測IC之送料機構13」以及鴻勁第551550號專利的「左、右懸臂取放機構40及50」相對應屬下位概念之具體技術特徵。如此一來，從引證案之「自動傳送裝置620」可能推得系爭案的「受測IC/完測IC之送料機構13」，也可能推得鴻勁第551550號專利的「左、右懸臂取放機構40及50」，而被告又認為後二者技術特徵不同，那麼被告認為自引證案之「自動傳送裝置620」可以直接且無歧異的推得系爭案的「受測IC/完測IC之送料機構13」，顯然推導過程是有錯誤的。
⒊事實認定錯誤：
⑴就系爭專利之「待測IC/完測IC緩衝承座14」認定錯誤：
①按系爭專利之專利說明書第7頁第3段係載明「．．
．其運作流程為．．．，測完後覆置入待測IC/完測IC緩衝承座14內，並由受測IC/完測IC之送料機構13送出，並依中央控制單元11讀取自輸出/輸入系統231的測試數據判斷等級，並置入適當的完測IC測試級別分選承置盤17內者。」②而該引證前案請求項10所揭示之「自動傳送裝置」
中所稱之「暫存位置」，係指最終用以存放測試完畢之積體電路的位置，見引證案申請專利說明書第18頁第12-20行所載：「至於自動傳送裝置620，．．．，其中積體電路分類裝置624有多個暫存位置624a、624b，用以放置測試後之積體電路630，比如．．．．。」③因此，該引證前案之「暫存位置」係指最終用以存
放測試完畢之積體電路的位置，其於系爭專利「待測IC/完測IC緩衝承座14」係用以暫時放置待測IC/完測IC之功能明顯不同；被告認為：「請求項10揭示『自動傳送裝置，適於自該積體電路供應裝置抓取該些被測積體電路，分送至該些測試用電腦，並根據該些被測積體電路之測試結果，將其傳送至該積體電路分類裝置中對應之該些暫存位置』，亦能由熟習該項技術者依引證案所揭『自動傳送裝置』轉運功能直接推導而得。」，就事實之認定顯有嚴重錯誤。
⑵就系爭專利之「輸出/輸入系統231」認定錯誤：
①按系爭專利之專利說明書第7頁第2段係載明「．
．．，該基本開機啟動環境23內含一輸出/輸入系統231，可由機台1中央控制單元11外接排線3至輸出/輸入系統231，由中央控制單元11適時發出控制訊號給測試平台2及由測試平台2讀取測試結果之訊號至中央控制單元11者。」②至於引證前案之「輸入/輸出裝置604」如其專利
說明書第16頁第3~8行所記載：「輸入/輸出裝置
604包括磁碟機等，用以儲存各種軟體，可以作為後續驅動測試用電腦600執行測試程序之用，這些軟體可以包括為測試而特別設計的程式，也可以包括常見或重要的一般應用程式。至於輸出裝置606較佳是一監視器（monitor），包括陰極射線管螢幕（CRT）或是液晶顯示器（LCD）等輸出顯示裝置，當然也可以是諸如印表機等輸出裝置。」；另外在引證前案之專利說明書第19頁第13~16行係揭示：「測試用電腦600執行測試程序時，以影像感測器616對測試用電腦600進行即時監控，比如感測輸出裝置606之影像，以判斷被測積體電路630是否在測試用電腦600中運作正常。」③由前述內容可以發現，系爭專利之「輸出/輸入系
統231」與引證前案之「輸入/輸出裝置604」完全不同；另外、系爭專利係直接由測試平台2讀取測試結果之訊號到中央控制單元11，而引證案前案則是透影像辯識技術，利用影像感測器616對測試用電腦600進行即時監控，比如感測輸出裝置606之影像，以判斷被測積體電路630是否在測試用電腦600中運作正常，因此、系爭專利與引證前案兩者之構成及運作方式顯然不同。被告認為「系爭專利之『輸出/輸入系統231』相同於引證前案之『輸入/輸出裝置604』云云」，就事實之認定顯有嚴重錯誤。
⒋不備理由之違法：
⑴所謂「能直接且無歧異得知的內容」是很小的範圍，
推導之距離過遠，即屬進步性之範疇。實務上曾有將公知技術認為是可以直接推導的範疇，但並非公知技術即屬可直接無歧異推導。應思考的是，系爭專利申請專利範圍未見於證據的技術特徵，在沒有證據的教示下，是否可以直接想到該技術特徵，而不會想到別的技術特徵；若有多種技術特徵皆為容易被想到，則非屬可直接無歧異推導的內容【見被告於95年5月所出版之「專利爭議案件審查訓練教材（2006年版）」第130頁）】。
⑵按「自動化」係有別於以人力為主的處理程序，故就
所屬技術領域中具有通常知識者皆知，達成自動化應需透過機械或是器具加以實現，反之機械或是器具則不一定已具備「自動化」之功能。例如一般所稱自動機的控制系統，並非一定需要有「中央控制單元」，1997年第5期之「機床電器」第3頁即揭露：自動機控制系統分3類：（1）按時間控制的系統；（2）按行程控制的系統，系統中沒有中央控制機構，各部件按照行程來動作；（3）混合式控制系統；即足以證明，自動化機械並不必然即有「中央控制單元」。又例如：傳統以人力灌溉的方式改以風車驅動水車進行自動灌溉的方式亦為自動化的另一簡單例子，此例即無所謂中央控制單元的利用。因此、「自動化」僅為一概念之稱呼，其實現的方式及手段繁多，故所謂「自動化」實已包含多個意義，實在不應將「自動化」與「當然有中央控制單元」劃上等號。而今系爭專利具體指出設有一中央控制單元11以控制協調機台其他機構之動作，且該中央控制單元11可適時發出控制訊號給測試平台2及由測試平台2讀取測試結果之訊號；反觀系爭專利說明書中先前技術形式上均未載明相同之技術，自然不應據此認定依據系爭專利說明書中先前技術之內容即可直接想到系爭專利申請專利範圍中之「中央控制單元」的技術特徵，而不會想到別的技術特徵，所以系爭專利申請專利範圍中之「中央控制單元」的技術特徵自應非屬可直接無歧異推導得知的內容。
⑶由前述的說明應可瞭解，被告既已承認「系爭專利之
『中央控制單元』並未揭露於系爭專利說明書所揭第１圖習知技術中」，僅憑參加人於補充舉發理由說明書第2頁（94年9月2日補充）所稱「於被舉發案中所提及之習用的IC測試處理機亦可輕易推導出具有中央控制單元，以控制協調機台其他機構之動作，因此被舉發案所謂的中央控制單元不具新穎性．．．云云」的片面之詞，即予率斷「系爭專利之中央控制單元
11能由熟習該項技術者直接推導而得」，且對於論理過程亦未盡詳述之責，顯然有違論理法則，以及「處分不備理由」之違法，被告甚至認為「中央控制單元非系爭專利要改良之處」，以及「系爭專利之機台部份皆為習知構件」，亦違反了「申請專利範圍採整體觀之」的原則。
㈡被告主張：
⒈原告雖主張系爭專利之「待測IC/完測IC緩衝承座14」
認定錯誤等語。關於此點審定書已說明待測IC/完測IC緩衝承座14為習知技術，具有一中繼轉運站功能，由系爭專利說明書第5頁第9行先前技術已載明「可運送該IC到各站之送測IC/完測IC輸送機構12'，利用送測IC/完測IC輸送機構12'將IC送到待測IC/完測IC緩衝區121'上，」，已說明有「待測IC/完測IC緩衝區121'」，系爭專利之待測IC/完測IC緩衝承座14即相同於習知「待測IC/完測IC緩衝區121'」，而引證案請求項10揭示「自動傳送裝置，適於自該積體電路供應裝置抓取該些被測積體電路，分送至該些測試用電腦，並根據該些被測積體電路之測試結果，將其傳送至該積體電路分類裝置中對應之該些暫存位置」，亦能由熟習該項技術者依引證案所揭「自動傳送裝置」轉運功能直接推導而得。
⒉原告復主張系爭專利之「輸出/輸入系統231」認定錯
誤，惟該理由並未於訴願階段爭執等語。關於此點審定書亦已說明【系爭專利說明書第7頁第4行載有「一測試平台2（如第3圖示出）：該測試平台2係設置於前述機台1之測試埠口16內的組裝架161上，包含一電源供應器21、一測試公板22與基本開機啟動環境23，其測試公板22為該受測IC製造商或其合作廠商之支援產品，並在該產品之IC解焊後，在其接合位置另焊設一IC測試插合座221，以插入受測IC；電源供應器21及基本開機啟動環境23（即主機板）為提供該測試公板22（插入受測IC後）可維持系統正常運作之元件，該基本開機啟動環境23內含一輸出/輸入系統231，可由機台1中央控制單元11外接排線3至輸出/輸入系統231，由中央控制單元11適時發出控制訊號給測試平台2及由測試平台2讀取測試結果之訊號至中央控制單元11者。」，此即相對應系爭專利請求1所揭「一測試平台：該測試平台係設置於前述機台之測試埠口內之組裝架上，包含一電源供應器、一測試公板與基本開機啟動環境（即主機板），其測試公板為該受測IC製造商之合作廠之支援產品，並在該接合位置焊設一IC測試插合座，以插入受測IC；電源供應器及基本開機啟動環境為提供該測試公板（插入受測IC後）可維持系統正常運作之元件，該基本開機啟動環境內含一輸出/輸入系統，可由機台之中央控制單元外接排線至輸出/輸入系統，以由中央控制單元適時發出控制訊號給測試平台及由測試平台讀取測試結果之訊號到中央控制單元者。」，而引證案說明書第15頁第3段載有「請參考第6圖‧‧‧，本發明的自動化積體電路整機測試裝置係建構在一機架650上‧‧‧，測試用電腦600至少包括一主機部分602，一輸入/輸出裝置604及一輸出裝置606。主機部份602至少包括一積體電路連接器608用以容置被測之積體電路，如前所述，主機部份602可以僅包括主機板，並可選擇性配置一介面模組，而積體電路連接器608可以如第4圖配置於界面模組上，或者如第5圖配置於主機板上，而且可以配置多個積體電路連接器於主機部份」。查系爭專利之測試公板22相同於引證案之模組電路板；‧‧‧；輸出/輸入系統231相同於引證案之輸入/輸出裝置604‧‧‧】。
⒊原告又主張系爭專利之中央控制單元未見於引證案等語
。關於此點審定書已說明系爭專利之發明重點在於「測試平台」，依其說明書所述之先前技術第1圖，可知系爭專利請求項1中所揭機台中之「受測IC之供料機構12」、「受測IC/完測IC之送料機構13」、「待測IC/完測IC緩衝承座14」、「IC測試吸嘴15」、「測試埠口16」、「完測IC測試級別分選承置盤17」等，分別相同於其說明書所揭第1圖習知技術之「待測IC預排入的供料機構11'」、「可運送該IC到各站之送測IC/完測IC輸送機構12'」、「待測IC/完測IC緩衝區121'」、「測試IC輸送臂13'上之測試夾頭131'吸取IC」、「測試區2'」、「完測IC放置盤14'」，而系爭專利請求項1中所揭機台中之「中央控制單元以控制協調機台其他機構之動作」，雖於其說明書所揭第1圖習知技術中並未載明，然從其說明IC測試之過程，熟習該項技術者可直接推導「中央控制單元」為必要之構件，但非系爭專利要改良之處，‧‧‧，系爭專利所揭「中央控制單元11以控制協調機台其他機構之動作」，相同於引證案之控制裝置640。
⒋另原處分審定書已敘明系爭專利其說明書第6頁第3段
載有「為解決上述習用IC測試處理器之問題，本發明利用一電源供應器、測試公板與基本開機啟動環境（即主機板Mainboard）組成一測試平台來替代習用的測試頭部份，此工作型態屬於現實環境測試，能對該IC作最詳細的測試作業，可提高IC測試的正確性。而尤於該測試平台之主機板、測試公板為該受測IC製造商或其合作認證廠商之支援產品，該受測IC一送樣，馬上會有供應商研發並推出市場，故可以很低廉的價格取得，且供貨無虞，對整體機台的成本亦可大幅下降。」，由該段之說明可知系爭專利之發明重點在於「測試平台，利用一電源供應器、測試公板與基本開機啟動環境（即主機板Mainboard）組成一測試平台來替代習用的測試頭部份」，而系爭專利其「工作型態屬於現實環境測試，能對該IC作最詳細的測試作業，可提高IC測試的正確性」之目的與引證案「可以模擬終端使用者的狀態以進行測試，確保積體電路的使用品質」目的相同，而審定書亦詳細說明系爭專利請求項1已揭示相同於引證案（含能由熟習該項技術者直接推導），故引證案足以證明系爭專利請求項1，係與申請在先而在其申請後始公開或公告之發明或新型專利申請案所附說明書或圖式載明之內容相同者，而不具新穎性。
㈢參加人經受合法通知未曾到場，亦未提出書狀作何陳述。
理由
一、按凡利用自然法則之技術思想之高度創作，而可供產業上利用者，得依法申請取得發明專利，為系爭專利核准審定時專利法第19條暨第20條第1項所規定。而發明專利權，任何人認有違反前揭專利法第19條至第21條或第27條之規定者，得附具證據，向專利專責機關舉發之，同法第73條第1項後段亦有規定。從而，系爭專利有無違反專利法情事而應不予專利，依法應由異議人附具證據證明之，倘其證據不足以證明系爭專利有違專利法之規定，自應為舉發不立之處分。
二、本件系爭第00000000號「應用於高頻IC測試之IC測試處理機」發明專利案申請專利範圍共2項（第1項為獨立項，餘為附屬項）：
⒈一種應用於高頻IC測試之IC測試處理機，其主要包括：一
機台：該機台提供一中央控制單元以控制協調機台其他機構之動作、受測IC之供料機構、受測IC/完測IC之送料機構、對應測試埠口數目設置之待測IC/完測IC緩衝承座及至少一IC測試吸嘴及測試埠口以銜接測試平台、完測IC測試級別分選承置盤；一測試平台：該測試平台係設置於前述機台之測試埠口內之組裝架上，包含一電源供應器、一測試公板與基本開機啟動環境（即主機板），其測試公板為該受測IC製造商之合作廠之支援產品，並在該接合位置焊設一IC測試插合座，以插入受測IC；電源供應器及基本開機啟動環境為提供該測試公板（插入受測IC後）可維持系統正常運作之元件，該基本開機啟動環境內含一輸出/輸入系統，可由機台之中央控制單元外接排線至輸出/輸入系統，以由中央控制單元適時發出控制訊號給測試平台及由測試平台讀取測試結果之訊號到中央控制單元者。
⒉如申請專利範圍第1項所述之應用於高頻IC測試之IC測試
處理機，其中該測試平台不含電源供應器而可由機台提供者。
參加人所提舉發之引證案為91年1月29日申請，92年8月21日公告之第00000000號「自動化積體電路整機測試系統、裝置及其方法」發明專利案。
三、本件舉發案經被告審查，認：⑴參酌系爭專利之專利說明書第5頁第6行以下所載之習知技術，以及第6頁第11行以下所載內容可知系爭專利之發明重點在於「測試平台，利用一電源供應器、測試公板與基本開機啟動環境（即主機板Mainboard）組成一測試平台來替代習用的測試頭部份」，而系爭專利其「工作型態屬於現實環境測試，能對該IC作最詳細的測試作業，可提高IC測試的正確性」之目的與引證案「可以模擬終端使用者的狀態以進行測試，確保積體電路的使用品質」之目的相同；⑵參酌系爭專利之專利說明書第5頁第6行以下所載之習知技術可知，系爭專利申請專利範圍第1項所揭示機台中之「受測IC之供料機構」、「受測IC/完測IC之送料機構」、「待測IC/完測IC緩衝承座」、「IC測試吸嘴」、「測試埠口」、「完測IC測試級別分選承置盤」等，分別等同於前揭習知技術之「待測IC預排入的供料機構」、「可運送該IC到各站之送測IC/完測IC輸送機構」、「待測IC/完測IC緩衝區」、「測試IC輸送臂上之測試夾頭吸取IC」、「測試區」、「完測IC放置盤」，而系爭專利申請專利範圍第1項所揭示機台中之「中央控制單元以控制協調機台其他機構之動作」，雖未載明於前揭專利說明書之習知技術中，惟從前揭專利說明書說明IC測試之過程，熟習該項技術者可直接推導「中央控制單元」為必要之構件，且非系爭專利要改良之處。⑶系爭專利所揭示之「中央控制單元以控制協調機台其他機構之動作」等同於引證案之控制裝置；系爭專利之受測IC之供料機構等同於引證案之積體電路供應裝置，適於暫存該些被測積體電路；系爭專利之受測IC/完測IC之送料機構等同於引證案之自動傳送裝置，自該積體電路供應裝置抓取該些被測積體電路，分送至該些測試用電腦；⑷由系爭專利之專利說明書第5頁第9行之先前技術已載明：「可運送該IC到各站之送測IC/完測IC輸送機構，利用送測IC/完測IC輸送機構將IC送到待測IC/完測IC緩衝區上」，即已揭示「待測IC/完測IC緩衝區」，故系爭專利之待測IC/完測IC緩衝承座等同於習知「待測IC/完測IC緩衝區」，且引證案申請專利範圍第10項已揭示「自動傳送裝置，適於自該積體電路供應裝置抓取該些被測積體電路，分送至該些測試用電腦，並根據該些被測積體電路之測試結果，將其傳送至該積體電路分類裝置中對應之該些暫存位置」，其亦能由引證案之「自動傳送裝置」直接推導而得；⑸由系爭專利之專利說明書第5頁第12行以下已載明「測試夾頭吸取IC並壓入測試頭進行測試」，故IC測試吸嘴為習知技術，且系爭專利之IC測試吸嘴亦等同於引證案之自動插拔機構，將該些被測積體電路分別置入對應之該些測試用電腦中及移除受測積體電路；⑹系爭專利之測試埠口等同於引證案之測試用電腦，用以承載及測試該些被測積體電路；系爭專利之完測IC測試級別分選承置盤等同於引證案之積體電路分類裝置，用以放置測試後之該些被測積體電路；系爭專利之測試公板等同於引證案之模組電路板；系爭專利之基本開機啟動環境（即主機板）等同於引證案主機部分之主機板；⑺引證案為自動化系統，電源供應器屬驅動元件之基本必要之構件，故系爭專利之電源供應器能由熟習該項技術者直接推導而得；⑻系爭專利之IC測試插合座等同於引證案之連接器；系爭專利之輸出/輸入系統等同於引證案之輸入/輸出裝置；系爭專利之組裝架等同於引證案之機架。綜上所述，系爭專利申請專利範圍第1項所載之各構件與申請在先而在其申請後始公告之引證案所附之專利說明書或圖式載明之內容相同，不具新穎性。再者，系爭專利申請專利範圍第2項之「該測試平台不含電源供應器而可由機台提供者。」亦可由熟習該項技術者由引證案直接推導而得，不具新穎性，乃為「舉發成立，應撤銷專利權」之處分。原告不服，提起訴願，仍遭決定駁回，遂提起行政訴訟；兩造之主張各如事實欄所載，其爭點為系爭專利是否有核准審定時專利法第20條之1規定不得取得發明專利之情形（即擬制喪失新穎性）？
四、本院判斷如下：㈠系爭專利核准審定時專利法第20條之1規定：「申請專利
之發明，與申請在先而在其申請後始公開或公告之發明或新型專利申請案所附說明書或圖式載明之內容相同者，不得取得發明專利。」係有關「擬制新穎性之規定」（與現行專利法第23條規定相同）。判斷申請專利之發明，是否具有新穎性，被告於83年11月25日公告之舊專利審查基準第2章第3節⒉⑶、⑷揭載「判斷發明有無新穎性時，應以發明之技術內容比對是否相同（含能由熟習該項技術者直接推導）為準。不相同即具有新穎性；相同即不具新穎性。」、「比對方式，應採單獨比對方式，以個別獨立的引證資料與「請求項所載發明」進行比對，不得將二個以上獨立的引證資料予以組合，以與『請求項所載發明』比對。」另現行專利審查基準第二篇第三章2.2.2引證文件中揭載：「‧‧‧審查新穎性時，應以引證文件中所公開之內容為準，包含形式上明確記載的內容及形式上雖然未記載但實質上隱含的內容，而引證文件揭露之程度必須足使該發明所屬技術領域中具有通常知識者能製造或使用申請專利之發明。實質上隱含的內容，指該發明所屬技術領域中具有通常知識者參酌引證文件公開時的通常知識，能直接且無歧異得知的內容。」由以上之相關審查基準內容可知，專利之新穎性審查應採單獨比對原則，而所謂獨立的引證資料，應以引證文件中有明確記載記載之內容，或實質上隱含之內容，由該發明所屬技術領域中具有通常知識者參酌引證文件公開時的通常知識，能直接且無歧異得知者為限。若某一引證文件中並未明確記載或實質隱含之內容，縱其為習知技術，亦不能謂由該發明所屬技術領域中具有通常知識者參酌引證文件能直接且無歧異推導得知。
㈡查系爭專利之構件「待測IC/完測IC緩衝承座」，在引證
案中並未明確揭示，此為兩造所不爭。雖原處分認為系爭專利之專利說明書第5頁第9行之先前技術已載明：「可運送該IC到各站之送測IC/完測IC輸送機構，利用送測IC/完測IC輸送機構將IC送到待測IC/完測IC緩衝區上」，即已揭示「待測IC/完測IC緩衝區」，故系爭專利之待測IC/完測IC緩衝承座等同於習知「待測IC/完測IC緩衝區」；且引證案申請專利範圍第10項已揭示「自動傳送裝置，適於自該積體電路供應裝置抓取該些被測積體電路，分送至該些測試用電腦，並根據該些被測積體電路之測試結果，將其傳送至該積體電路分類裝置中對應之該些暫存位置」，其亦能由引證案之「自動傳送裝置」直接推導而得云云；訴願決定亦持相同之見解，予以維持。惟查：
⑴系爭專利之專利說明書第7頁第3段載明「．．．其運
作流程為先將待測IC放入機台1上的受測IC之供料機構12，並利用受測IC/完測IC之送料機構13將待測IC送到待測IC/完測IC緩衝承座內，續由IC測試吸嘴15由待測IC/完測IC緩衝承座內將待測IC置入測試公板22上之IC測試插合座221內進行真實環境測試，測完後覆置入待測IC/完測IC緩衝承座14內，並由受測IC/完測IC之送料機構13送出，並依中央控制單元11讀取自輸出/輸入系統231的測試數據判斷等級，並置入適當的完測IC測試級別分選承置盤17內者。」⑵而引證案申請專利範圍第10項雖揭示「自動傳送裝置，
適於自該積體電路供應裝置抓取該些被測積體電路，分送至該些測試用電腦，並根據該些被測積體電路之測試結果，將其傳送至該積體電路分類裝置中對應之該些暫存位置」，惟其所稱之「暫存位置」，係指最終用以存放測試完畢之積體電路的位置，此與系爭專利之「分選承置盤17」相當，而與系爭專利之「待測IC/完測IC緩衝承座14」係屬於前階段用以暫時放置待測IC/完測IC之功能明顯不同；是由引證案之申請專利範圍第10項所述之「自動傳送裝置」，實難謂其已明確記載或隱含系爭專利之「待測IC/完測IC緩衝承座」之技術特徵。
⑶再由引證案之專利說明書觀之，並未隻字片語提及與系
爭專利「待測IC/完測IC緩衝承座」相當之構件。尤有甚者，其專利說明書第18頁第13行起敘及「‧‧‧至於自動傳送裝置620，比如是機械手臂，是用來傳送受測積體電路之用，可以將欲測試積體電路630由一積體電路供應裝置622（比如是拖盤），傳送至測試電腦600，進行測試，並可將測試後的積體電路630，根據其測試結果放入積體電路分類裝置624中‧‧‧」等語，可知引證案所教示之「自動傳送裝置」，係由機械手臂「直接」將積體電路（IC）由積體電路供應裝置傳送至測試電腦或由測試電腦傳送至積體電路分類裝置，中間並未如系爭專利經過一中繼轉用站「待測IC/完測IC緩衝承座」。是系爭專利與引證案之技術內容並非完全相同，其差異之部分，依該發明所屬技術領域中具有通常知識者，基於引證案所載之技術內容，亦難直接且無歧異推導得知。
⑷至於系爭專利說明書所載之習知技術，固已揭露系爭專
利「待測IC/完測IC緩衝承座」之構件，惟此究為引證案之外之資料，尚難與引證案組合，以與系爭專利進行比對，論究其新穎性。雖訴願決定陳稱前揭習知技術係用以佐證其屬熟習該項技術者得由引證案直接推導者云云；惟依前所述，所謂得由引證案直接推導者，限於引證案本身已實質隱含該項技術內容而言，若引證案根本無涉該項技術內容，即難參酌其他習知技術，而謂得由引證案直接推導而得；本件引證案非但形式上未明確記載，且實質上亦未隱含系爭專專利「待測IC/完測IC緩衝承座」之構件，既如前述，自難謂系爭專利之「待測IC/完測IC緩衝承座」技術特徵，得由引證案直接推導者。
⑸末查，系爭專利係一種應用於高頻IC測試之IC測試處理
機，其申請專利範圍第1項係記載整體之裝置與構造，故其發明係整體性的，有一構件之技術特徵與引證案不同，系爭專利即具有新穎性。本件引證案實質上既不具有系爭專利「待測IC/完測IC緩衝承座」組成之整體裝置與構造之技術特徵，自不足以證明系爭專利申請專利範圍第1項不具新穎性。又系爭專利申請專利範圍第2項係附屬項，其特徵應包括獨立項所述之全部特徵，獨立項既具有新穎性，附屬項當然亦具有新穎性。
五、綜上所述，系爭專利並無核准審定時專利法第20條之1規定擬制喪失新穎性之情形，依首揭說明，本件應為舉發不成立之處分。被告不察，為「舉發成立，應撤銷專利權」之處分，不無違誤，訴願決定予以維持，亦有未合。原告起訴意旨執以指摘，請求撤銷訴願決定及原處分，為有理由，應予准許。
據上論結，本件原告之訴為有理由，依行政訴訟法第98條第1項前段，判決如主文。
中華民國96年9月27日
第七庭審判長法官李得灶
法官林育如法官林玫君上為正本係照原本作成。
如不服本判決，應於送達後20日內，向本院提出上訴狀並表明上訴理由，如於本判決宣示後送達前提起上訴者，應於判決送達後20日內補提上訴理由書（須按他造人數附繕本）。
中華民國96年9月27日
書記官蔡逸萱